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Tageos产品通过奥本大学RFID实验室认证


作者:林俊奇 编译 来源:RFID世界网 2017-01-06 08:43:04 填写您的邮件地址,订阅我们的精彩内容:

摘要:超高频(UHF)RFID标签制造商Tageos宣布在奥本大学RFID实验室完成ARC项目产品测试。该公司表示,其EOS-400产品通过了零售环境相关的所有11项用例测试。

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  超高频(UHF)RFID标签制造商Tageos宣布在奥本大学RFID实验室完成ARC项目产品测试。该公司表示,其EOS-400产品通过了零售环境相关的所有11项用例测试。

  奥本大学RFID实验室是一家研究机构,专注于零售,航空航天和制造业的技术实施,同时和零售商,供应商和技术提供商合作,提供性能及质量测试。ARC项目为RFID性能提供了全局基准,许多支持RFID的零售商和主要RFID标签制造商都使用了该标准。

  Tageos的独特制造工艺消除了蚀刻RFID产品中塑料载体层的需要,从而简化了制造。与传统的RFID标签相比,该工艺可减少50%的胶水和塑料的需求。公司称,ARC测试结果显示,该工艺对性能无任何影响。

  Tageos首席执行官Matthieu Picon在一份准备好的声明中说:“通过所有11项ARC测试是Tageos的一大成就。”这样,零售商及供应商便可放心地使用Tageos RFID产品,享受产品的创新,成本好处。

  (rfid世界网独家稿件,转载请注明来源作者!)

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