千兆科科技Josef Preishuber-Pflügl：如何利用测量设备进行有效的UHF RFID测试

　　深圳市千兆科科技有限公司 Josef Preishuber-Pflügl先生

　　在2015年8月20日召开的2015(第八届)深圳国际物联网高峰论坛暨RFID世界大会上，来自深圳市千兆科科技有限公司的Josef Preishuber-Pflügl先生为现场观众带来了一场以“如何利用测量设备进行有效的UHF RFID测试”为主题的精彩演讲，物联传媒编辑据现场演讲内容整理成文如下：

　　扮演的角色

　　Josef先生在开篇中表示，CISC在RFID标准中扮演了众多的角色，其中包括ISO/IEC SC31 WG4/SG6 RFID性能及规范性测试方法的召集者;GS1 EPCglobal TLRPP Tag Label Reader and Printer Performance及GS1 EPCglobal UHF AI Group的副主席;ISO/IEC 18000-63 Type C的项目编辑者。Josef先生指出，CISC的RFID测试的特色体现在四个方面：一为秒现丢失的bits而不用花一天的时间去寻找;二为确保如何放置、跟踪和管理您的标签;三为在GS1和ISO/IEC规范性测试中只需其他综合设备1/100的测试时间;四为可有效地节省时间与金钱。Josef先生介绍道，Xplorer是一台多功能RFID测试设备，它可以进行多种RFID性能测试，包括标签性能测试、规范性测试、读写器测试及Inlay测试等。

　　如何进行有效的RFID测试?

　　接着Josef先生详细地介绍了如何利用测试工具Xplorer进行RFID的测试，并详细地介绍了测试方法。

　　应用测试之读写器测试：Josef先生表示该测试可快速确定读写器的问题到底出在哪里，从而有效节省时间，但在测试之前，首先要了解读写器的工作环境，确定周围是否有其他应用或者干扰因素存在;在标签跟读写器之间的通信中，Xplorer能够直接分析标签与读写器之间通信的数据，通过FM0来获得EPC，只需用2.5ms就获得一个EPC/UII;换成M=4来获得EPC/UII的话，一个的时间则需要5ms。此外，Xplorer还可明晓读写器正在做什么、其时序及数据内容是否正确及读写器信号的波形状况如何，如滤波是否良好，波形是否平滑，无毛刺等。

　　标签性能测试：标签性能测试是为确保选择正确的标签或inlay确保最好的读取速率，Josef先生详细地介绍了UHF RFID标签测试流程，即首先需进行读写器的独立测试，包括使用标签认证及读指令、使用参考读写器及写指令三个步骤;接着需将标签贴于产品或者参考材料上;再测试分配给RFID的整个UHF频率范围内的标签性能;测试整个功率等级范围的标签性能;最后是测试贴附在产品不同位置的标签性能。 Josef先生指出，UHF RFID标签测试流程的五个步骤是相辅相成的。

　　稳定性： Josef先生表示，标签读写性能的稳定性是至关重要的，只有好的标签才有稳定的读写性能， Xplorer通过性能差异的比较来确定标签读写性能的表现，还可轻松完成生产在线测试从而快速判断标签的好坏，节约时间的同时提升效率。

　　规范性：标准的重要性不言而喻，这需要理解规范性及真实产品的不同，Josef先生在这里强调了全自动一致性测试的重要性，因为据此测试结果便可知晓标签是否达到了标准的要求。

　　“以上所有测试的结果最终汇集成一份完整的测试报告，帮助客户明晓UHF RFID的性能到底如何，这便是我今天所要讲的如何利用测试设备进行有效的UHF RFID测试。”Josef先生最后说道。