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凯路威X-RFID芯片标签已通过100年的数据保持时间测试


作者:四川凯路威电子有限公司 来源:凯路威 2015-07-29 10:25:01 填写您的邮件地址,订阅我们的精彩内容:

摘要:本公司的X-RFID芯片标签在相关部门的检测下得出结果,该芯片可以有效保存数据达70年。

关键词:X-RFID芯片标签[0篇]  70年[0篇]  

电子标签可靠性的一个重要参数指标是数据保持能力(Data Retention)。传统的RFID芯片采用EEPROM(包括任何以浮置栅为基本结构的存储器)作为存储器件,数据保持时间一般声称为10年。X-RFID采用不含浮置栅结构的存储器件,存储机理决定其数据保持能力是永久性的。

中国电子科技集团公司第五十八所检测中心是取得国家相关资质的第三方检测单位。受凯路威公司委托,该中心用高温加速寿命试验对X-RFID的数据保持能力进行检测并出具书面检测报告判定:在常温存储条件下,该芯片可以有效保存数据达100年。

提供考核的全部X-RFID试验样本,经历数千小时的加速寿命试验后无一失效。凯路威公司将以100年为目标,对X-RFID的数据保持能力进一步考核。

这是目前世界上数据保持能力最高的RFID产品。100年的数据保持能力,极大地扩展了电子标签的应用领域:


& #61656; 机密档案和图书馆等珍贵书籍和文物的管理。
& #61656; 资产管理
& #61656; 高可靠证卡
& #61656; ……
迄今,X-RFID芯片产品已成功应用于档案管理项目上。

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