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CISC RFID Xplorer增加可进行tagged-item测试功能
作者：CISC 供稿
来源：RFID世界网
日期：2015-03-30 16:07:42
摘要：日前，记者从CISC获悉， CISC RFID Xplorer已经可以进行基于由GS1 标记项目性能协议” (TIPP) 指南定义的“tagged-item test procedure”测试测量。这个测试是用于tagged-Item达到特定的等级而设的一个标准。
日前，记者从CISC获悉， CISC RFID Xplorer已经可以进行基于由GS1 标记项目性能协议” (TIPP) 指南定义的“tagged-item test procedure”测试测量。这个测试是用于tagged-Item达到特定的等级而设的一个标准。
Klagenfurt (Austria), Mountain View CA (USA) – 24th February, 2015: 随着GS1标记项目性能协议公布，CISC导入TIPP扩展了CISC RFID Xplorer RFID测试测量产品的功能。Xplorer根据由GS1 “标记项目性能协议” (TIPP) 指南定义的“tagged-item test procedure”来进行测试测量。TIPP指南提供了一个标准，意味着在零售环境中表现出性能的要求及一个标准测试协议来验证一个标记项目的性能。
CISC RFID Xplorer可跟据GS1标记项目性能协议(TIPP)被配置成一台Tagged Item性能测试仪。在这个模式下，Xplorer提供了一个快速开关切换到4个线性天线。随着CISC旋转测试平台，标签项目读取和反向散射灵敏度在3D环境中不同的角度下被测试。结果的准确性是由Xplorer的自我校准及可选的根据ISO/IEC 17025可溯源校准(这须在独立认证测试实验室完成)而定。
CISC RFID Xplorer提供高传输功率4W EIRP和优越的-90dBm的接收灵敏度，这非常适合于进行很难读取的标签项目测试，如包含了液体或金属的。通过拓展内存测试和提供加密功能，Xplorer已经满足读卡器和标签之间隐私及安全数据传输的测试要求。
