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CISC公司推出新一代UHF RFID测试系统Xplorer 200


作者:RFID世界网编译 来源:RFID世界网 2013-11-04 00:55:32 填写您的邮件地址,订阅我们的精彩内容:

摘要:奥地利设计和咨询服务公司CISC半导体宣布更新其CISC RFID Xplorer系统,以增强对超高频(UHF)射频识别标签的性能测试。

关键词:CISC[18篇]  UHF[380篇]  RFID测试[21篇]  标签测试[4篇]  

  奥地利设计和咨询服务公司CISC半导体宣布更新其CISC RFID Xplorer系统,以增强对超高频(UHF)射频识别标签的性能测试。

  Xplorer测试系统于2012年4月首次公布,采用便携式设计,是一套结构紧凑的解决方案。公司称,这还是一套低成本的RFID标签灵敏度测试系统,小而强,可对通信距离和后向散射进行精确测量。

  新版本的名称为Xplorer 200,扩展了对内存读写和加密码套件的测试,完全支持EPCglobal和ISO / IEC标准。

  Xplorer 200将在RFID Journal LIVE! Brasil(11月6-7日,圣保罗)上亮相,特别针对了巴西RFID测试标准定制开发,如SINIAV, ARTESP和Brasil ID。

  公司称,Xplorer可以用来衡量单个的标签性能,也可以同时进行多个标签的完整分析。

  CISC RFID Xplorer的外形大小仅为160*205*50毫米(6.3*8.1*2英寸),方便携带、拆卸和安装,可以在几分钟之内操作完成。

  设备的工作在800 MHz到1 GHz的频率范围,RFID世界网加上一台匹配的计算机来运行Xplorer软件,对每个频率的占用时间小于1秒,测试速度快。

  在读写器的性能和一致性测试过程中,信号实时传输没有记录时间限制。

  Xplorer是专为户外测试开发,可以是便携式或固定式的RF试验室或RF控制环境的测量解决方案。

  该系统提供了软件和自校准参考标签。

  测试设备使用的图形用户界面(GUI)控制,带有一个额外的应用程序编程接口(API),在标准的开发环境下,用户可自定义测试序列。(RFID世界网编译)

  (rfid世界网独家稿件,转载请注明来源作者!)

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