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富士通展示新型抗辐射RFID技术解决方案

作者:RFID世界网收录
来源:EEWORLD
日期:2012-05-08 12:48:35
摘要:5月1日至5月3日的Interphex2012展会上,富士通与其它一些合作公司着重展示了其使用铁电存储器技术(FRAM)的创新RFID解决方案。

  5月1日至5月3日的Interphex2012展会上,富士通与其它一些合作公司着重展示了其使用铁电存储器技术(FRAM)的创新RFID解决方案。

  “富士通的高性能FRAM技术可用于医疗设备和用品的标记,其数据甚至在伽马射线灭菌过程中也能保持完好。” 富士通美国高级营销经理Tong Swan Pang说,“在Interphex2012,与我们合作的一些公司已经在它们的产品中集成了我们的FRAM技术,可提供用于医疗、生物加工和制药领域的抗辐射、高性能RFID解决方案。”

  FRAM是高性能、低功耗的非易失性存储器。它最吸引用户眼球的性能特点是几乎无限的写入次数(1百万亿次),远远超过了EEPROM的1百万次,因此与SRAM、非易失性SRAM模块、MRAM和NVSRAM一起成为需要频繁写入操作的嵌入式应用的存储器选择之一。FRAM现已广泛地在计量、电力能源的监测、嵌入式系统、安全系统报警监控、工业控制以及汽车电子等领域得到了应用,全球交货量已超过1.75亿个,且应用空间和规模还在不断扩大中。而对于医疗和制药领域,最重要的是FRAM技术可以抵抗辐射。FRAM数据可保证免受高达50kGy(杀灭食品中活菌数的90%即减少一个对数周期所需要吸收的射线剂量称为“D”值,其单位为“Gy”,常用kGy表示)的伽马射线消毒损害,而这个数字是通常医用的两倍。

  结合了FRAM技术,保证重要医学与制药产品的安全性变得更容易。传统的RFID标签使用EEPROM技术,容易被辐射破坏,而FRAM正好打破了传统RFID标签的一系列限制。

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