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倪明选博士谈RFID基准测试的挑战和机会


作者:RFID世界网 周军 来源:RFID世界网 2008-07-30 16:49:10 填写您的邮件地址,订阅我们的精彩内容:

摘要:那么RFID基准测试现今面临着那些挑战呢?倪博士认为,五个挑战是RFID基准测试需要面对的。

关键词:倪明选[0篇]  RFID测试[12篇]  基准测试[3篇]  挑战[0篇]  

  RFID技术是从二十世纪90年代兴起的一项非接触式自动识别技术。它是利用射频方式进行非接触双向通信,以达到自动识别目标对象并获取相关数据,具有精度高、适应环境能力强、抗干扰强、操作快捷等许多优点。RFID已被广泛应用于交通运输控制管理等众多领域。 

  近年来,我国RFID技术发展很快。远望谷、先施科技等国内优秀企业先后崛起。TI等世界著名厂商也纷纷抢滩进军中国,进一步壮大了我国RFID产业兴起的力量。现今,我国RFID产品丰富,种类繁多。可谓各有特点,又自成系列。但RFID产品要得到应用,无论其采用哪种频率、哪种标准,在开发和生产过程中都必须解决测试的问题。 
  
  日前,在第三届粤港无线射频识别(RFID)技术应用高峰论坛上倪明选博士和300多位专家一起畅谈“RFID基准测试的挑战和机会”。 

  那么RFID基准测试现今面临着那些挑战呢?倪博士认为,五个挑战是RFID基准测试需要面对的。 

  挑战一:在实现系统之前,缺乏科学的方法去评价一种RFID方案。一些初步研究发现RFID基准测试的结果会依赖变量,如空间阀值、读取率、频率漂移和信号强度等。同时包装的复杂程度也会影响到结果。尤其在盘货时,如果没有测试覆盖率和方法学,要读取每个标签是非常困难的。诸如多个物品堆积时相互干扰而造成读取率下降、读写器部署不当引起的重复信息读取、电子标签所附物品的介质对电磁信号的干扰、安全架构考虑不周造成非法读取等问题,都会影响系统整体的应用效果,甚至打击最终用户对RFID技术本身的信心。 

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多个物品堆积时相互干扰而造成读取率下降

   挑战二:组合测试。倪博士表示要进行透彻的试验就要对控制变量进行不同的组合。比如,测试不同数量的RFID标签,从1个递增到100个,或者用不同方向测试,从0度递增到90度;又或者用不同高度的天线,从0.5米递增到3米;还有不同的发射信号强度、不同的距离、不同的频率等。各种因素都要进行组合测试。每种组合都需测试许多次,以获得统计学上可靠的结果。测试的工作量大,可能要很久才能做得完。就算完全做完,如果添加新的变量。测试可能需要更长时间。

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多天线测试

  挑战三:随场景而变。倪博士列举了做试验的三个不同场景:露天环境、参考消音室和室内环境。在不同环境中,测试的结果是不一样的。由于RFID系统应用的现场环境大多比较复杂,如需经历反复击打、高温或低温、油污影响等传统条码无法胜任的场合,因此,测试还必须要考虑到RFID设备的故障率等各方面的问题。 

  挑战四:随应用需求而变。在不同的应用中得出的值的不一样。那么我们如何针对某一具体应用做RFID基准测试。又怎么去识别一个具体的应用领域。倪博士认为在投资和实施RFID解决方案之前,按照测试方法和流程进行一定的测试及仿真试验是必要的。例如,确定物体表面电子标签的最佳粘贴位置以及包装材料选择等,这对保证正式上线后系统读取率的准确性和连续性的作用是非常明显的。 

  挑战五:安全与隐私保护。读写器接收到标签发回的信号。如果同时有个同款的读写器也能接收到标签发回的信号。那么安全与隐私就值得考虑。RFID的安全与隐私问题曾经引起国际上许多专家们深入探讨和研究。但相关的问题解决之道尚欠缺。 

  倪博士还谈到RFID基准测试需面对的其它挑战。如性能的仿真模型、知识表示、数据纠错、Qrecte问题和硬件和软件等等各方面因素。当然这些方面的挑战并非是不能解除的。倪博士表示“这些挑战是个挑战,更是个机会。在过去的一年,我们在RFID基准测试方面的做了很多努力。如3月RFID基准测试联盟在香港大学成功举办了第一届中国射频识别基准测试论坛,并在论坛大会上举行了备忘协议签订仪式。现在我们需要展开研究RFID检测技术、性能指标的评估模型、RFID测试规范等问题。” 



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