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高速ECC密码专用芯片一次流片,测试成功

作者:华大信安
来源:RFID世界网
日期:2008-09-17 16:15:39
摘要:2008年月3月6日,华大信安自主开发的高速ECC公钥密码专用芯片一次流片成功!
  2008年五月 ,华大信安自主开发的高速ECC公钥密码专用芯片一次流片、测试成功。产品性能居国内领先水平。根据初步测试,
    功能性能达到设计预期,在100MHz工作频率下,192位非固定点乘达5300次/秒,256位点乘达3500次/秒,最大消费电流低于120mA。
    可以充分满足金融、电信、电子商务、电子政务等的高端认证服务设备的需要。可为ECC公钥密码基础设施的构建提供核心器件。
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