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第三届RFID(国际)学术会议(北京2006年10月29日至30日)


作者:中科院自动化所 刘禹   来源:RFID世界网  2006-7-6 10:18:28
摘  要: 第三届RFID(国际)学术会议(北京2006年10月29日至30日)
关键词: RFID[2744篇]  学术会议[3篇]  自动识别[110篇]  麻省理工学院[4篇]  中科院自动化所[3篇]  复旦大学[2篇]  

会议名称:第三届RFID(国际)学术会议

                The 3rd RFID Academic Convocation

时间:2006年10月29日至30日

地点:北京

联合主办方:麻省理工学院自动识别实验室(Auto-ID Labs at MIT)

                    中科院自动化所RFID实验室(RFID Lab at Institute of Automation, CAS)

                    复旦大学自动识别实验室(Auto-ID Labs at Fudan University)

展会主题:RFID and Auto-ID in China

展会安排:本次学术会议邀请了全球业内著名学者及研究人员参加,会议期间将开展围绕中国RFID及自动识别技术发展等议题的专家演讲和举行圆桌会议等活动。

联系方式:Email: rfidconvocation@mit.edu

Website: http://autoid.mit.edu/CS/

附:本次学术会议主席及委员会成员名单

会议联合主席:

Bill Hardgrave
University of Arkansas, USA

Stephen Miles
Massachusetts Institute of Technology,USA

Dimitris Kiritsis
Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne , Switzerland

John Williams
Massachusetts Institute of Technology,USA

学术会议委员会成员:(按字母顺序排序)

David W.L. Cheung
University of Hong Kong, China

Dieter Uckelmann
University of Brement, Germany

Duncan McFarlane
Cambridge University, UK

Elgar Fleisch
St. Gallen and ETH Zurich, Switzerland

Gisele Bennett
Georgia Tech Research Institute, USA

Gregory McCarthy
North Dakota State University, USA

Hao Min
Fudan University, China

Jean-Pierre Emond
University of Florida, USA

Jun Murai
Keio University, Japan

Kaveh Pahlavan
Worcester Polytechnic Institute, USA

Mark Roberti
RFID Journal, USA

Marlin Mickle
University of Pittsburg, USA

Peter H. Cole
University of Adelaide, Australia

Quingue Ling
Oregon State University, USA

Sang-Gug Lee
Information  and Communications University, Korea

Tom Pain
University of Pittsburg, USA

Yu Liu
Institute of  Automation, Chinese Academy of Sciences, China

 






 
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