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第三届中日韩 Auto-ID实验室技术研讨会在韩国大田举行


作者:RFID射频快报特约通讯员 王俊宇 来源:RFID世界网 2006-07-26 10:18:28

摘要:本月18日至19日,第三届中日韩 Auto-ID实验室技术研讨会在韩国大田市信息与通信大学(ICU)胜利召开,复旦大学Auto-ID实验室主任闵昊教授、庆应大学Auto-ID实验室主任村井纯教授、ICU大学Auto-ID实验室主任Sang-Gug Lee教授等著名学者参加了会议。

关键词:Auto-ID[2篇]  实验室[7篇]  研讨会[15篇]  韩国[16篇]  


 2006年7月18日~19日,第三届中日韩 Auto-ID实验室技术研讨会在韩国大田市信息与通信大学(ICU)举行。复旦大学Auto-ID实验室主任闵昊教授、庆应大学Auto-ID实验室主任村井纯教授、ICU大学Auto-ID实验室主任Sang-Gug Lee教授、剑桥大学Auto-ID实验室副主任Mark Harrison以及来自各个实验室的30多位学者和学生参加了本次会议。

本次研讨会共分为RFID应用,信息安全,软件与传感器网络,硬件I和硬件II等5个板块,分别由Tatsuya Inaba、Osamu Nakamura、Mark Harrison、Sang-Gug Lee、Junyu Wang担任执行主席。会议期间,与会代表就RFID软件、硬件设计,基于RFID的商品防伪,以及EPC传感器网络和下一代电子标签设计技术进行了深入的探讨。

CJK会议由闵昊教授、村井纯教授和Sang-Gug Lee教授联合发起,至今一共举办了三届,分别在中国、日本和韩国举行。根据本次会议的讨论结果,CJK会议将继续进行下去,每4个月轮流在三个国家举行。此外,为了促进中日韩三国在RFID领域的交流,在今后的CJK会议中设置专题讨论板块,根据相关课题展开深入讨论,并将建立更加有效的信息交流和合作机制,一同推动RFID技术在亚洲的发展。

2006年7月20日~21日,在ICU大学举行了Auto-ID实验室主任/副主任会议,来自MIT、剑桥大学、阿特莱德大学、ICU大学、庆应大学、复旦大学和圣加仑大学的主任和副主任齐聚一堂,共同审定即将出版的防伪白皮书,相互介绍实验室的最新进展,并讨论了进一步的合作领域。

2006年7月21日下午,在ICU大学举行了一次面向韩国工业界的RFID研讨会,Stephen Miles (MIT)、村井纯(庆应)、闵昊(复旦)、Peter Cole(阿特莱德)、Mark Harrison(剑桥)、Florian Michahelles(圣加仑)、Jong woo Sung(ICU)分别代表7个Auto-ID实验室向与会代表介绍了各国RFID的技术和应用进展以及研究兴趣等,并回答了代表们的提问。来自工业界的30位代表(例如LG)参加了本次会议。


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