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Oak Ridge国家试验室开发双模式RFID读片器


作者:计世网 来源:计世网 2005-05-16 10:18:28

摘要:Oak Ridge国家试验室开发双模式RFID读片器

关键词:读卡设备[0篇]  

  8月2日记者获悉,Oak Ridge国家试验室将利用Spectrum Signal Processing公司的flexComm SDR-3000平台开发可检测处理来自主动和被动RFID标签的RFID读片器。这家为美国能源部工作的试验室正在根据美国能源部和国防部的要求,开发第一批多标准读片器。
  据试验室官员说,原型读片器预计将于不久的未来完成。软件定义的无线电技术将使读片器可以改变频率读取主动或被动标签。一位试验室官员说,这种读卡器最终将用于商用。他说,试验室将不会将这项技术推出市场,而是向一家私营公司授权这项技术。商业领域的这家公司将获得这项技术的授权,并以自己的商标销售最终的产品。

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